华兴源创获得发明专利授权:“导电粒子的检测方法”

专利摘要:本发明涉及ACF导电粒子压合检测技术领域,公开了一种导电粒子的检测方法,包括采集导电粒子图像,所述导电粒子图像中包括标记图形和目标区域;所述标记图形用于定位所述目标区域;根据所述标记图形和所述目标区域的相对位置关系,获取所述导电粒子图像中的目标区域图像;确定所述目标区域图像中凸点区域的边缘,并对所述目标区域图像进行划分获取凸点区域图像;查找所述凸点区域图像中的导电粒子;统计并输出所述导电粒子的检测结果。通过两次定位来精准地分割导电粒子图像中的凸点区域,并对凸点区域内的导电粒子进行检查,可以有效减少图像偏移对检测结果的影响,提高导电粒子的检测精度及检测效率。

今年以来华兴源创新获得专利授权185个,较去年同期减少了11.48%。结合公司2023年中报财务数据,今年上半年公司在研发方面投入了1.9亿元,同比增8.83%。

数据来源:企查查

华兴源创获得发明专利授权:“导电粒子的检测方法”

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